edx1800b 手持xrf分析仪维修

rohs检测仪产品详细资料和参数介绍，由苏州实谱信息科技有限公司生产的ROHS检测仪型号EDX1800BS产品技术特点是采用下照式设计，样品腔大，可满足各种形状样品的测试需求。多种准直器和滤光片的电动切换，满足ROHS检测，镀层测厚，合金分析要求。定位测试很方便，人工操作简单易学，美国进口高分辨率Si-pin探测器，大的保证了仪器的检测精度。美国Amtek生产的X光管，使得仪器具备较高的稳定性，实现较高的测试效率。
关于测试PBB和PBDE的检测.机构的检测方法 A.在测试时会先采用X荧光进行测试，判断是否    含有溴的化合物。 B.如果含有Br就要用傅立叶变换红外色谱法（FTIR）对产品进行定性扫描，判断是否是PBB和PBDE两种溴的化合物； C.如果含有PBB和PBDE再用GC/MS(气/质联动)进一步进行定量分析 D.如果没有就出ND报告了。这种分析方法的不足之处就是检测程序复杂，测试时间很长，对工作人员的经验要求非常高，而且成本很高。

仪器的性能是购买仪器很重要的一个指标 
      简单介绍下仪器心脏，探测器。为什么仪器的价格会相差那么远，很大原因就因为这个。依分辨率高低档次由低常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器，充气（He, Ne, Ar, Kr, Xe等）正比计数管器、HgI2晶体探测器、半导体致冷Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器、高纯锗晶体探测器、电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器、Ge（Li）锂漂移锗探测器等。 目前常用的是电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器、Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。所以你要仪器的检出限好你就要看它了。 低档探测器有效检测元素数量少，对被测物质中微量元素较难检测，分辨率一般在700－1100eV，一般可分析材料基体中元素数量较少，元素间相邻较远，含量较高的单个元素。中档探测器有效检测元素数量稍多，对痕量元素较难检测，分辨率一般在160－300eV， 一般用于检测的对象元素不是相邻元素，元素相邻较远（至少相隔1-2个元素以上），基体内各元素间影响较小。 探测器可以同时对不同浓度所有元素（一般从Na至U）进行检测，分辨率一般在100－180eV。可同时测定元素周期表中Na-U范围的任何元素。对痕量检测可达几个ppm量级。 **那两档检测器，不能完全符合RoHS的要求，很多生产xrf的公司都宣称他们的仪器能对Na到U元素进行检测，但测试的时候能把na到u元素分开吗，我们都知道相邻元素会互相干扰，如果干扰了，你说做出来的数据会准确吗？ 电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器的分辨率为140eV –165eV.电制冷不需要消耗液氮，但他制冷工艺复杂，价格也贵，靠消耗电来制冷，分辨率比液氮稍逊，但也完全符合rohs检测的要求。液氮制冷需消耗液氮，使用起来不方便，但液氮的温度很低，操作者必须注意安全，但它的分辨率比电制冷稍好。这里我们还要看探测器的面积，探测器面积越大，效率越高。测试的时间就越短。市面上探测器面积有5—15mm2不等。测试时间对RoHS这个行业也是很重要的，因为很多厂家的需检测的产品比较多，可能有300多个，甚至更多。如果购买了了一台低效率的XRF，你可能要再买几个才能满足你的测试量。 讲完了XRF几个关键的部件，谈下XRF的几个指标。a. 检出限 很多XRF商家使用仪器的检出限来迷惑客户，宣称他们的仪器检出限很低，能完全满足你的需要。仪器检出限是三倍仪器噪音的值，在实际使用中没有多大的意义。其实客户关心的是方法检出限，有现实意义的是方法检出限，也就是说在满足其它质控要求的条件下，实验所用的方法能从样品中检出目标物的小浓度。所以以后XRF商家说他们的仪器检出限有多么低的时候，你可以问下他们的方法检出限是多少。因为大家都知道在实际检出中，都存在基体干扰的，如果分辨率不好，虽然仪器检出限很低，但到具体检测一个样品的时候，方法检出限可能会使仪器检查限的几倍甚至几十倍。 b. 仪器的精度 一般XRF的精度都比较差，因为他属于筛选型的仪器，精度要好，除了仪器本身的原因以外，还同做标准曲线有很大关系。如果单说仪器的精度有多好，个人认为也是很不科学的。 c. 仪器的稳定性有的XRF商家说他们的仪器稳定性有多好，你就要看是短时间的稳定性还是长时间的稳定性了。短时间的仪器稳定性也是没什么意义的，一般以8小时长时间的仪器稳定性为标准。8小时稳定性<1%的仪器稳定性应该是不错的。

《电子信息产品污染控制管理办法》(简称《管理办法》)，标志着中国版RoHS问世。近日，与《电子信息产品污染控制管理办法》配套的电子信息产品污染控制三个主要行业标准已经完成报批，不日将正式发布。指出，电子信息产品污染控制相关标准的将推动中国版RoHS全面实施

XRF元素分析仪一般使用以下三种类型探测器中的一种：“Prop”（比例）计数器、硅PIN二管，以及硅漂移探测器（SDD）。
    比例计数器是一种气体电离装置，通过产生与能量成比例的检测器输出来测量入射的能量。比例计数器有一个相对较好的检测窗口用于捕获荧光X射线。它们工作在中等电压范围，非常适合于测量传统的单层（和一些多层）电镀沉积物。
    值得一提的是，比例计数仪器是这三种类型探测器中价格便宜的，对于不需要高分辨率的简单应用，可以有效看到光谱峰的分离。但是，这类探测器同样存在一些缺点，主要包括高基线噪声和需要频繁的进行校准。
    温度控制对这些设备至关重要，因为探测器需要使用一些对温度变化高度敏感的气体——比任何固态探测器都要敏感得多。充气管还会随着时间的推移而可能发生一定的泄漏。尽管它有这些缺点，但由于检测窗口较大，其通量通常较高，因此它可以检测到大量的光子。所以，虽然应用领域可能有限，但标准偏差较好。
    硅PIN二管提供的光谱分辨率**比例计数器。这意味着操作人员可以测量较薄的沉积物和较低的元素浓度，并执行一些较复杂的测量，例如合金和厚层样品以及涉及到未识别材料的测量。凭借Peltier效应（TEC/TEM）冷却技术，硅PIN探测器具有较低的噪音，而且分辨率和检测限都较加出色，结果也较加稳定。
    硅漂移探测器通常能够产生比前两者较高的计数率和光谱分辨率，一般值比硅PIN二管探测器高出50％左右。与比例计数器相比，峰值背景比率得到了显著的改进，基线噪声也较低，可以得到较好的检测限和较大的元素测试范围。
    因为有效地消除了背景噪声，所以硅漂移探测器能够非常地测量重叠元素——周期表上的那些“相邻”元素，如镍、铜、锌以及铬和铁（它们之间的信号分离小）。而原来使用的一些技术，如果没有数学计算就无法解决这些重叠元素的测试。今天，由硅PIN和硅漂移探测器提供的分辨率改进就很好地消除了对数学计算或数字滤波的需要。
    与硅PIN一样，硅漂移探测器芯片组也是根据Peltier效应冷却的，不受气候影响，并且不需要氮气储存。所以，这些探测器几乎不需要进行太多的维护。硅漂移探测器是50μm以下薄膜样品以及一些复杂技术领域中应用的薄膜的检测器，包括ENIG、EPIG和ENEPIG（化学镀镍浸金、化学镀钯浸金和化学镀镍钯浸金）等。
应用范围：
 针对于欧盟、北美RoHS环保指令、玩具指令等。应用于塑胶、电子、电器，有色金属、连接器、端子、印刷、玩具、服饰、器械、地矿、五金、PCB、半导体、通信、电镀、饰、手表、汽车、钢铁、鞋材、皮革等行业。ROHS检测仪是快速检测来料的佳检测工具。

苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**，集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的科技企业。公司**产品X射线荧光光谱仪技术，达到国内水平。产品广泛应用于钢铁、有色、矿山、水泥、冶金、地质、贵金属饰、石油化工、食品、电子电器、五金塑胶、汽车工业等行业。       实谱公司拥有完善的销售和服务网络，在全国设立多个服务网点和营销代理，拥有强大的服务支撑体系。公司成立客户服务中心，提供免费服务热线。公司与国外多家建立合作关系，产品品种齐全，为各行业提供的分析检测解决方案和仪器设备。作为一家科技创新型企业，实谱科技拥有XRF行业的软件研发工程师和硬件研发工程师，平均从业经验十年以上。