SunScan 作物林地冠层分析系统

SunScan 作物冠层分析系统

用途：
通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有**的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

原理：
根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光**传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

产地： 英国

北京哈维斯廷科技有限公司是生态环境领域内的**企业，**致力于环境气象监测，土壤监测，植物生理监测等仪器的研发和销售。凭借**的产品质量，丰富的行业经验，强大的技术实力，完善的售后服务竭诚为广大用户提供产品咨询，方案设计，技术培训等的*服务。

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