x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用**EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
技术参数:
1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)
2. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)
3. 厚度检出限:0.005μm
4. 成分检出限:1ppm
5. 小测量直径0.05mm(小测量面积0.002mm²)
6. 对焦距离:0-90mm
能量色散X荧光光谱分析仪,是一款配备SDD探测器的率光谱分析仪!
此款产品可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统,以及高敏变焦测距装置,可测试微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm,可检测镀层厚度0.005um ,小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm,要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都可轻松操作。
XTD-200是一款于检测各种异形件,特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测,在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势;搭载全自动可编程移动平台,**,便可实现多样品的自动检测。
自动、智能、在线检测
自动:可编程自动位移平台,**、自动检测样品;一次编程便可实现成百上千个样品点的检测
智能:实现自动AI影像智能寻点,编程档案自动匹配测试位置,在面对大批同类型样品检测时,具备明显的优势
在线:根据客户要求可个性化定制产线在线式检测,为工业4.0提供在线检测整体解决方案,提高检测效率,实现全自动智能化工厂
公司宗旨:专注研发,生产,专精服务。
企业精神:诚信,敬业,团结,共赢。
管理理念:沟通共识,人和,包容创新。
经营理念:以人为本,以诚取胜,合作共赢。
社会责任:饮水思源,回馈社会。
苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。